1.定義：

- JTAG（聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組）是測(cè)試和調(diào)試集成電路的標(biāo)準(zhǔn)，廣泛用于嵌入式系統(tǒng)開(kāi)發(fā)。

2.目的：

- 能夠調(diào)試、測(cè)試和編程嵌入式系統(tǒng)，支持開(kāi)發(fā)人員檢查和操作處理器內(nèi)部狀態(tài)。

3.組件：

-測(cè)試訪(fǎng)問(wèn)端口（TAP）控制器管理對(duì)JTAG接口的訪(fǎng)問(wèn)。

4.主要特點(diǎn)：

-支持互聯(lián)檢查的邊界掃描測(cè)試。

-啟用固件更新的系統(tǒng)內(nèi)編程。

-廣泛用于實(shí)時(shí)調(diào)試，而不會(huì)中斷操作。

5.JTAG 引腳：

- TCK（測(cè)試時(shí)鐘）、TMS（測(cè)試模式選擇）、TDI（測(cè)試數(shù)據(jù)輸入）、TDO（測(cè)試數(shù)據(jù)輸出）。

6.JTAG調(diào)試器和探頭：

- JTAG調(diào)試器連接到JTAG進(jìn)行調(diào)試。

- JTAG探頭是連接JTAG調(diào)試器與目標(biāo)系統(tǒng)的連接器或電纜。

7.JTAG邊界掃描：

-使用移位寄存器方法檢測(cè)PCB上的互連故障。

8.JTAG命令：

-通過(guò)JTAG發(fā)送的命令控制TAP控制器進(jìn)入調(diào)試模式或讀取內(nèi)存等操作命令。

9.系統(tǒng)調(diào)試：

- OpenOCD是一種支持使用JTAG進(jìn)行系統(tǒng)編程和調(diào)試的開(kāi)源工具的示例。

10.常見(jiàn)的JTAG兼容微控制器：

- ARM Cortex-M系列微控制器通常支持JTAG進(jìn)行調(diào)試和編程。

審核編輯：劉清