前言
我們設計晶體回路時,總能遇見各種各樣的問題,比如晶體回路頻率不準,溫度變化精度不準。本來在實驗室測得很好的狀態,可是大批量生產時有不起振的,或是工作一段時間有不工作的現象。總而言之關于晶體震蕩回路總是有這樣或那樣的問題。今天幫大家整理一下思路,總結一下到底有哪些問題,該怎么解決。
震蕩回路介紹
處理晶振回路之前,我們先簡單要了解一下晶體基本知識:晶體分為晶體單元和晶體振蕩器。
晶體單元,也就是我們通常會發生問題器件,它是無源晶體,需要外接兩個負載電容。我們主要說明的就是這類震蕩回路。
晶體振蕩器屬于有源器件,只要供電就會工作中,所以出現問題的可能性很小。今天不做分析。
晶體單元有幾個重要的參數,我們需要了解一下和它的標準震蕩回路。
圖1晶體單元標準回路
Rf:反饋電阻,一般在IC內部。設計前要查明是否需要外接,一般時10M,20M。
反相器等:IC內部
Cg和Cd:外接電容,通過調整大小可以改變頻率,功耗,起振能力等指標。
Rd:限流電阻,很多設計是不用的。它是避免震蕩回路電流過大,起到限流的作用。
1 晶體元件頻率Nominal Frequency
晶體元件頻率(Nominal Frequency),也是工程師在電路設計和元件選購時首要關注的參數。晶振常用標稱頻率在1~200MHz之間,比如32768Hz、8MHz、12MHz、24MHz、125MHz等,更高的輸出頻率也常用PLL(鎖相環)將低頻進行倍頻至1GHz以上。我們稱之為標稱頻率。
2 頻率誤差 Frequency Tolerance
頻率誤差(Frequency Tolerance)或頻率穩定度(Frequency Stability),用單位ppm來表示,即百萬分之一(parts per million)(10-6),是相對標稱頻率的變化量,此值越小表示精度越高。比如,12MHz晶振偏差為±20ppm,表示它的頻率偏差為12×20Hz=±240Hz,即頻率范圍是(11999760~12000240Hz)
3 等效電阻Equivalent Series Resistance
等效電阻,ESR,或是R1或是CI。都是指等效電阻的意思。
4 負載電容CL Load capacitance
晶體負載電容CL,就是晶體規格書標出的值,是指整個外圍電容有效電容的總和。根據表格看,就是說當CL=6pf時(外掛倆個電容,寄生電容),輸出的頻率32.768KHz在± 10ppm范圍內。
問題分析
失效現象主要分類
2. 大批量生產時有晶體不震動現象。
3. 發貨前沒有問題,經過一段時間晶體回路不工作。
無論哪種失效類型,我們都要考慮晶體本身可能壞掉,盡管晶體出廠就是壞品的可能性非常低。這個最好分析的,直接交給原廠直接做質量分析即可。我們這里不做介紹。
分析問題我們都要有個思路,我們用“分析試問題解決”思路來處理,即:現象-問題(問題帶來的影響)-原因-對策-風險
主要問題
根據現象首先要精煉出對應問題,問題一般有如下幾種:
1 精度出現偏差。
2 晶體回路起振能力不好。
3 晶體回路功耗過大。
4 晶體本身損壞。
5 其他問題。
對策
然后原因分析,對策,風險預估。我們用一個表格來歸類說明。
例如:CE測試
CE測試(Crystal Evaluation),主要評估無源晶體回路特性,幫助客戶可靠的使用晶體器件,評估客戶當前電路板晶體回路特性。
常規測試是通過調節負載、電容等,來評估當前晶體回路的頻偏、起振能力(-R)、驅動功率。
下面有6張詳情圖片,我們一起來看看吧!
1、石英晶體振蕩電路設計概要
2、雜散電容計算方式
3、負載電容的調整
4、驅動標準
5、負電阻
6、晶體產品方案設計溫度曲線圖
總結
當晶體回路出現問題時,首先要根據現象,找出問題所在,是頻率還是起振或其他問題等。然后做幾個交叉試驗,排除是否是晶體損壞帶來的影響。如果不是,把電路板交給原廠做個回路分析。最后根據分析的結果在做下一步處理,換電容,換晶體,或是調整IC。
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