電子產(chǎn)品，是指采用電子信息技術(shù)制造的相關(guān)產(chǎn)品及其配件，有兩個顯著特征：一是需要電源才能工作;二是工作載體均是數(shù)字信息或者模擬信息的流轉(zhuǎn)。

一般來說為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗，是為預測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況，選定與市場環(huán)境相似度較高的環(huán)境應力后，設定環(huán)境應力程度與施加的時間，主要目的是盡可能在短時間內(nèi)，正確評估產(chǎn)品可靠性。

電子產(chǎn)品可靠性試驗目的

當前，電子信息技術(shù)發(fā)展十分迅速，對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求也越來越高。可靠性試驗的目的由以下五點：

在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評價產(chǎn)品可靠性達到預定指標的情況;生產(chǎn)階段為生產(chǎn)過程質(zhì)量監(jiān)督提供信息;對定型產(chǎn)品進行可靠性鑒定或驗收;

暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應力條件下的失效規(guī)律及相關(guān)失效模式和失效機理;為改進產(chǎn)品可靠性,制定和改進可靠性試驗方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

電子產(chǎn)品可靠性試驗的分類

從環(huán)境條件可分為包括各種應力條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗;

從試驗項目可分為壽命試驗、加速試驗和各種特殊試驗;從試驗目的來劃分，可分為可靠性工程試驗(包括環(huán)境應力篩選試驗和可靠性增長試驗)、可靠統(tǒng)計試驗(包括可靠性驗證試驗和可靠性測定試驗);從試驗性質(zhì)來劃分，可分為破壞性試驗和非破壞性試驗。通常慣用的分類法，是把可靠性試驗歸納為五大類

環(huán)境試驗

壽命試驗

篩選試驗

現(xiàn)場使用試驗

鑒定試驗

一、環(huán)境試驗

部分可靠性專著把樣品置于自然或人工模擬的儲存、運輸和工作環(huán)境中的試驗統(tǒng)稱為環(huán)境試驗，是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境(振動、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等)條件下的適應能力，是評價產(chǎn)品可靠性的重要試驗方法之一。一般主要有以下幾種：

1、穩(wěn)定性烘培，即高溫存儲試驗

試驗目的：考核在不施加電應力的情況下，高溫存儲對產(chǎn)品的影響。有嚴重缺陷的產(chǎn)品處于非平衡態(tài)，是一種不穩(wěn)定態(tài)，由非平衡態(tài)向平衡態(tài)的過渡過程既是誘發(fā)有嚴重缺陷產(chǎn)品失效的過程，也是促使產(chǎn)品從非穩(wěn)定態(tài)向穩(wěn)定態(tài)的過渡過程。

這種過渡一般情況下是物理化學變化，其速率遵循阿倫尼烏斯公式，隨溫度成指數(shù)增加.高溫應力的目的是為了縮短這種變化的時間.所以該實驗又可以視為一項穩(wěn)定產(chǎn)品性能的工藝。

試驗條件：一般選定一恒定的溫度應力和保持時間。微電路溫度應力范圍為75℃至400℃，試驗時間為24h以上。試驗前后被試樣品要在標準試驗環(huán)境中，既溫度為25土10℃、氣壓為86kPa~100kPa的環(huán)境中放置一定時間。多數(shù)的情況下，要求試驗后在規(guī)定的時間內(nèi)完成終點測試。

2、溫度循環(huán)試驗

試驗目的：考核產(chǎn)品承受一定溫度變化速率的能力及對極端高溫和極端低溫環(huán)境的承受能力.是針對產(chǎn)品熱機械性能設置的。當構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應力較大時，溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。如漏氣、內(nèi)引線斷裂、芯片裂紋等。

試驗條件：在氣體環(huán)境下進行。主要是控制產(chǎn)品處于高溫和低溫時的溫度和時間及高低溫狀態(tài)轉(zhuǎn)換的速率。試驗箱內(nèi)氣體的流通情況、溫度傳感器的位置、夾具的熱容量都是保證試驗條件的重要因素。

其控制原則是試驗所要求的溫度、時間和轉(zhuǎn)換速率都是指被試產(chǎn)品，不是試驗的局部環(huán)境。微電路的轉(zhuǎn)換時間要求不大于1min在高溫或低溫狀態(tài)下的保持時間要求不小于10min;低溫為-55℃或-65-10℃，高溫從85+10℃到300+10℃不等。

3、熱沖擊試驗

試驗目的：考核產(chǎn)品承受溫度劇烈變化，即承受大溫度變化速率的能力。試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效.熱沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的目的基本一致，但熱沖擊試驗的條件比溫度循環(huán)試驗要嚴酷得多。試驗條件：被試樣品是置于液體中。主要是控制樣品處于溫和低溫狀態(tài)的溫度和時間及高低溫狀態(tài)轉(zhuǎn)換的速率。試驗箱內(nèi)液體的流通情況、溫度傳感器的位置、夾具的熱容量都是保證試驗條件的重要因素。

其控制原則與溫度循環(huán)試驗一樣，試驗所要求的溫度、時間和轉(zhuǎn)換速率都是指被試樣品，不是試驗的局部環(huán)境。微電路的轉(zhuǎn)換時間要求不大于lo，：轉(zhuǎn)換時被試樣品要在5 min內(nèi)達到規(guī)定的溫度;在高溫或低溫狀態(tài)下的停留時間要求不小于2 min;高低溫條件分為三檔，A檔為0+2-10℃~100+10-2℃，B檔為一55”llc～125+10℃，c檔為-655,0℃一150+10℃.A檔一般用水作載體，B檔和C檔用過碳氟化合物作載體。作載體的物質(zhì)不得含有氯和氫等腐蝕性物質(zhì)或強氧化劑物質(zhì)。