Geekbench測(cè)試中顯示的Galaxy S21性能測(cè)試顯示了成功的結(jié)果
在今天引入了三星S20系列的新成員Galaxy S20 FE之后不久，有關(guān)Galaxy S21系列的新信息就出現(xiàn)了。Geekbench測(cè)試中顯示的Galaxy S21性能測(cè)試顯示了成功的結(jié)果。
預(yù)計(jì)將于2021年第一季度發(fā)布的Galaxy S21系列的詳細(xì)信息已經(jīng)出現(xiàn)。S21的型號(hào)為SM-G996B，其處理器代碼名為Exynos 2100，預(yù)計(jì)將以Exynos 1000的名稱發(fā)布。除此信息外，還知道S21系列將可用具有不同的內(nèi)存選項(xiàng)。
從Geekbench 5的得分來看，Galaxy S21單核得分為1038分。在多核中，具有3060點(diǎn)的設(shè)備比Galaxy Note 20 Ultra型號(hào)提供更高的性能。Galaxy Note 20 Ultra型號(hào)在單個(gè)內(nèi)核中能夠獲得960點(diǎn)。
除了已經(jīng)出現(xiàn)的有關(guān)Galaxy S21系列的測(cè)試之外，人們還認(rèn)為后置攝像頭將采用四列陣列。還眾所周知，手機(jī)將配備40百萬像素的前置攝像頭。盡管價(jià)格有可變的數(shù)字，但大多數(shù)貨源的價(jià)格估計(jì)為1400美元。
責(zé)任編輯：lq
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
處理器
+關(guān)注
關(guān)注
68文章
19404瀏覽量
230998 -
攝像頭
+關(guān)注
關(guān)注
60文章
4860瀏覽量
96217 -
Galaxy
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
411瀏覽量
29919
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
炭塊電阻率測(cè)試儀顯示的測(cè)量結(jié)果始終為零，可能存在哪些深層次的技術(shù)原因及如何解決
當(dāng)測(cè)試儀顯示測(cè)量結(jié)果始終為零，這背后可能蘊(yùn)含著多方面深層次的技術(shù)原因，具體如下： · 電流源故障 ：電流源若出現(xiàn)故障，無法輸出電流，就會(huì)導(dǎo)致沒有電流通過炭塊。我們知道，根據(jù)歐姆定律，電壓等于電流
影響OTDR測(cè)試結(jié)果的因素
測(cè)試參數(shù)設(shè)置 1.1 脈沖寬度 OTDR的脈沖寬度決定了測(cè)試的動(dòng)態(tài)范圍和分辨率。較短的脈沖寬度可以提供更高的分辨率，但會(huì)降低動(dòng)態(tài)范圍；而較長的脈沖寬度則相反。因此，選擇合適的脈沖寬度對(duì)于獲得準(zhǔn)確的
華為云 X 實(shí)例 CPU 性能測(cè)試詳解與優(yōu)化策略
? 2.2 Sysbench單線程CPU性能測(cè)試 ? 2.3 Sysbench多線程CPU性能測(cè)試（4線程） ? 2.4 高強(qiáng)度多線程CPU性能
新加坡高防服務(wù)器性能測(cè)試報(bào)告
新加坡高防服務(wù)器在此次測(cè)評(píng)中展現(xiàn)了出色的性能和多項(xiàng)顯著的優(yōu)勢(shì)。速度與帶寬方面，測(cè)試結(jié)果顯示，服務(wù)
如何測(cè)試PROM器件的性能
測(cè)試PROM（Programmable Read-Only Memory，可編程只讀存儲(chǔ)器）器件的性能是確保其在實(shí)際應(yīng)用中穩(wěn)定可靠的重要環(huán)節(jié)。以下是一些常用的測(cè)試PROM器件
ESD HBM測(cè)試差異較大的結(jié)果分析
ESD HBM測(cè)試結(jié)果差異較大的原因，通常包括設(shè)備/儀器差異、?校準(zhǔn)和維護(hù)水平不同、?環(huán)境條件差異、?測(cè)試樣本差異、?測(cè)試操作員技能和經(jīng)驗(yàn)差異以及測(cè)
藍(lán)牙Mesh 1.1網(wǎng)絡(luò)的性能測(cè)試
開發(fā)板的節(jié)點(diǎn)并組成網(wǎng)絡(luò)，來分析在多個(gè)測(cè)試節(jié)點(diǎn)上進(jìn)行的一系列實(shí)驗(yàn)結(jié)果，進(jìn)一步探索藍(lán)牙Mesh1.1網(wǎng)絡(luò)的性能，包括網(wǎng)絡(luò)延遲、遠(yuǎn)程配置和OTA, DFU性能的詳細(xì)
天線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何自動(dòng)化測(cè)試S參數(shù)，評(píng)估射頻天線性能？
射頻天線用于傳輸和接收無線電頻率信號(hào)，是無線電通信系統(tǒng)中的重要組成部分，直接影響著設(shè)備的性能和通信狀況。作為衡量天線性能的重要指標(biāo)，S參數(shù)測(cè)試
谷景揭秘哪些因素會(huì)影響電感測(cè)試結(jié)果
電感作為電子電路中非常重要的一種電子元器件，它在電路中的主要作用就是儲(chǔ)存能量和過濾信號(hào)。我們?cè)谶x擇電感的時(shí)候有一個(gè)重要步驟——測(cè)試！測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性可能會(huì)收到多種因素影響，下面我們就來
影響氣密性測(cè)試結(jié)果的原因分析及解決方案分享
影響氣密性測(cè)試結(jié)果的原因分析及解決方案分享現(xiàn)在的制造業(yè)，對(duì)產(chǎn)品的氣密性能都是要求很高的，通過氣密性測(cè)試能檢測(cè)出產(chǎn)品在使用時(shí)是否會(huì)出現(xiàn)滲漏、漏氣等質(zhì)量問題，確保產(chǎn)品的可靠性和安全性。不過
性能測(cè)試的實(shí)現(xiàn)方法是什么
性能測(cè)試是一種評(píng)估軟件系統(tǒng)在不同負(fù)載下性能表現(xiàn)的測(cè)試方法。它可以幫助開發(fā)團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)性能瓶頸，優(yōu)化系統(tǒng)性能
性能測(cè)試主要測(cè)什么 性能測(cè)試的指標(biāo)有哪些
性能測(cè)試是軟件測(cè)試的一個(gè)重要組成部分，主要用于評(píng)估軟件系統(tǒng)在各種負(fù)載條件下的性能表現(xiàn)。性能測(cè)試的
三星Galaxy S25 Ultra沿用5000mAh容量電池，電池規(guī)格無更新
自 2021 年推出 Galaxy S21 Ultra 以來，該品牌便始終在 Ultra 系列中采用 5000mAh 容量的電池設(shè)計(jì)。盡管曾有傳聞稱三星正在研發(fā)疊片式電池技術(shù)，但最新的消息顯示
三星在印度為S21/S22用戶提供免費(fèi)屏幕更換服務(wù)
自去年七月開始，三星印度已對(duì)部分受到影響的設(shè)備實(shí)施了免費(fèi)的顯示屏更換服務(wù)，涉及 Galaxy S20 及 Galaxy Note 20 系列
三星Galaxy S24 FE曝光代號(hào)與上市延后，硬件配置仍未知
據(jù)爆料平臺(tái) GalaxyClub 透露，三星正秘密開發(fā)代號(hào)為 R12 的新品。回溯此前三代 FE 系列產(chǎn)品，Galaxy S20 FE、S21 FE 以及 S23 FE 的代號(hào)依次為
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論