如果測試人員相當(dāng)謹(jǐn)慎，那么就可以采取類似MIL-STD-461中的測試裝置來檢測共模扼流圈的飽和特性。這個原理的應(yīng)用如下：測試時采用兩只電流探頭，低頻探頭監(jiān)測線電流，高頻探頭僅測量共模發(fā)射電流。線電流監(jiān)視器作為觸發(fā)源。不過，使用電流探頭的一個隱患是差模電流衰減是管芯內(nèi)繞組導(dǎo)線對稱性的函數(shù)。如果精心合理安排繞線布局的話，30DB左右的差模電流衰減是能夠得到的。即使達(dá)到這個衰減值，測得的差模分量也可能超過預(yù)期的共模分量值。

可用如下兩項技術(shù)來解決這一問題：

第一，將一只6kHz轉(zhuǎn)折頻率的高階高通濾波器與示波器串聯(lián)（注意應(yīng)用50的終端阻抗進(jìn)行匹配）。

第二，在每只10μF的電容與電源總線之間接入一根導(dǎo)線。為了測量共模輻射，電流探頭應(yīng)夾在這些載有極小線電流的導(dǎo)線近旁。

共模扼流圈內(nèi)存在的差模與共模磁通

為了快速且淺顯地介紹共模扼流圈的作用，可考慮采用以下論述：“共模扼流圈管芯兩側(cè)的磁場相互抵消，因此不存在磁通使管芯飽和。”盡管這種論述對共模扼流圈作用的直覺敘述具體化了，但實質(zhì)上并非如此。

參考以下圍繞麥克斯韋方程所進(jìn)行的討論：

假設(shè)電流密度J產(chǎn)生磁場H，那么就可得出結(jié)論：附近的另一個電流不會抵消或阻止磁場或者是由此而產(chǎn)生的電場。

同樣一個相鄰的電流可以導(dǎo)致磁場路徑的改變。

在環(huán)形共模電感的特殊場合中，每條引線中的差模電流密度可假定是相等的，且方向相反。所以由此而產(chǎn)生的磁場必定在環(huán)形磁芯周邊上的總和為0，而在其外部則不為0！

磁芯的作用就好象它在線圈繞組的間隙處裂為兩半時所表現(xiàn)出來的效果一樣。每個繞組在環(huán)形線圈一半的區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生磁場，意指穿過空氣的磁場必定會形成自封閉回路，下圖是環(huán)形磁芯和差模電流磁路的示意圖。