??????? 傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)通常將一些臺(tái)式儀器或特定儀器模塊組裝在機(jī)架上，構(gòu)成“機(jī)架堆疊”式測(cè)試系統(tǒng)，這種測(cè)試系統(tǒng)的局限性在于它們一般用來(lái)對(duì)一個(gè)元件、一個(gè)模塊或一個(gè)子系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試，而沒(méi)有足夠的能力支持對(duì)大范圍的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，最多只能對(duì)一個(gè)相近系列的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。隨著產(chǎn)品生命周期的縮短和制造成本的不斷下降，專用測(cè)試系統(tǒng)變得越來(lái)越不經(jīng)濟(jì)。為了降低產(chǎn)品的測(cè)試成本，測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)在必須能夠測(cè)試多種產(chǎn)品，以確保每種產(chǎn)品都能有一個(gè)合理的投資回報(bào)（ROI）。本文從解決靈活性、可伸縮和高效測(cè)試等問(wèn)題入手，介紹既能經(jīng)濟(jì)地滿足今天的要求，又能保護(hù)未來(lái)投資的合成測(cè)試系統(tǒng)方法。

　　今天的測(cè)試與測(cè)量提供商面臨著與日俱增的壓力，它們需要為客戶提供成本更為經(jīng)濟(jì)，而且能支持迅速加快的產(chǎn)品周期的解決方案。產(chǎn)生這些壓力的部分原因是：

　　1. 產(chǎn)品的總體生命周期和生產(chǎn)成本持續(xù)下降，而測(cè)試成本卻往往不能同步降低。

　　2. 制造商不斷追求更高的生產(chǎn)能力。

　　3. 產(chǎn)品復(fù)雜性的提高、技術(shù)和產(chǎn)品集成度的快速進(jìn)步不斷對(duì)生產(chǎn)測(cè)試設(shè)備提出更高要求。產(chǎn)品在生產(chǎn)過(guò)程中也經(jīng)歷比以往更多的改進(jìn)，這也相應(yīng)推動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)在生產(chǎn)周期中進(jìn)行改進(jìn)。

　　4. 在產(chǎn)品生命周期較長(zhǎng)的情況下，測(cè)試設(shè)備的老化過(guò)時(shí)問(wèn)題嚴(yán)重。

　　5. 產(chǎn)品性能的提高推動(dòng)了對(duì)執(zhí)行速度更快、并能在運(yùn)行過(guò)程中工作的質(zhì)量更高的系統(tǒng)級(jí)校準(zhǔn)和自測(cè)試的需求。

　　傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)提供商通常將一些臺(tái)式儀器或特定儀器模塊組裝在機(jī)架上，并用相應(yīng)的電纜和連接器將它們與被測(cè)產(chǎn)品連接起來(lái)。然后再增加軟件，對(duì)這些儀器的內(nèi)嵌功能進(jìn)行調(diào)用。這種方法被稱為“機(jī)架堆疊”（rack-and-stack）式測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)方式。表1列舉了一些傳統(tǒng)儀器的例子，圖1給出了一個(gè)簡(jiǎn)單的機(jī)架堆疊式射頻（RF）測(cè)試系統(tǒng)。

　　臺(tái)式儀器是為在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下使用而設(shè)計(jì)的，它們可以獨(dú)立進(jìn)行測(cè)試，但供應(yīng)商也提供有機(jī)架安裝套件，方便將儀器集成到測(cè)試系統(tǒng)中使用。儀器模塊包含了與臺(tái)式儀器相同的核心硬件，但不包用戶接口、供電或其它輔助硬件部分。儀器模塊插入一塊背板之中，依靠一臺(tái)遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)來(lái)提供用戶界面和控制功能。迄今為止，采用這些部件的傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)還是最為普遍的，但它們?cè)诮鉀Q測(cè)試和測(cè)量行業(yè)目前面臨的挑戰(zhàn)時(shí)遇到很大困難。

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　　這些機(jī)架堆疊式解決方案常常受到其設(shè)計(jì)的限制。它們一般用來(lái)對(duì)一個(gè)元件、一個(gè)模塊或一個(gè)子系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試，而沒(méi)有足夠的能力支持對(duì)大范圍的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，最多只能對(duì)一個(gè)相近系列的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。隨著產(chǎn)品生命周期的縮短和制造成本的不斷下降，專用測(cè)試系統(tǒng)變得越來(lái)越不經(jīng)濟(jì)。為了降低產(chǎn)品的測(cè)試成本，測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)在必須能夠測(cè)試多種產(chǎn)品，以確保每種產(chǎn)品都能有一個(gè)合理的投資回報(bào)（ROI）。

　　許多基于臺(tái)式儀器的系統(tǒng)使用通用儀器總線（GPIB/IEEE-488）等低速通信總線，這大大限制了它們的測(cè)試吞吐率。不過(guò)，這還只是問(wèn)題的一部分。由于系統(tǒng)集成商通常只能使用生產(chǎn)時(shí)構(gòu)建在各儀器內(nèi)部的功能和測(cè)試算法，這也帶來(lái)了一個(gè)很大的問(wèn)題。在許多場(chǎng)合下，為測(cè)試而進(jìn)行的產(chǎn)品配置僅僅允許優(yōu)化測(cè)試算法以提高速度和性能，但對(duì)于傳統(tǒng)儀器，系統(tǒng)集成商根本無(wú)法接觸到這個(gè)層面。

　　在許多情況下，產(chǎn)品中的信號(hào)波形或數(shù)據(jù)協(xié)議將隨時(shí)間發(fā)生變化，這可能導(dǎo)致需要改變測(cè)試系統(tǒng)中的一臺(tái)甚至所有儀器。圖1所示的傳統(tǒng)射頻測(cè)試系統(tǒng)就體現(xiàn)了這一點(diǎn)。如果原來(lái)的產(chǎn)品或被測(cè)單元（UUT）工作頻率在3GHz以下，測(cè)試系統(tǒng)集成商通常將選擇覆蓋這一頻率范圍的頻譜分析儀、合成器、信號(hào)發(fā)生器或矢量信號(hào)分析儀，以降低初始采購(gòu)成本，在測(cè)試系統(tǒng)競(jìng)標(biāo)中尤其如此。如果下一代產(chǎn)品的工作頻率改到了6GHz范圍或更高，就需要對(duì)只能覆蓋3GHz頻率范圍的所有儀器進(jìn)行重新購(gòu)置和集成，盡管它們的處理能力和瞬時(shí)帶寬或許仍然足夠應(yīng)付升級(jí)產(chǎn)品的測(cè)試工作。這導(dǎo)致了巨大的一次性成本，并使針對(duì)特定單一產(chǎn)品的測(cè)試系統(tǒng)泛濫成災(zāi)。

　　所有這些問(wèn)題都影響了軍事、航天和商業(yè)領(lǐng)域的測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用，但儀器老化過(guò)時(shí)問(wèn)題給軍事應(yīng)用帶來(lái)的挑戰(zhàn)最為嚴(yán)重。因?yàn)檐娪迷O(shè)備的工作年限很長(zhǎng)，軍用測(cè)試系統(tǒng)的使用期限常常在20年以上。系統(tǒng)老化過(guò)時(shí)的原因大多是由于測(cè)試軟件是圍繞儀器特定的硬件能力而編寫(xiě)的，而且軟件驅(qū)動(dòng)程序相對(duì)特殊，使得改進(jìn)提高還不如徹底地重新設(shè)計(jì)。替換老化過(guò)時(shí)設(shè)備時(shí)也可能遇到?jīng)]有功能等效設(shè)備的情況。有時(shí)候，系統(tǒng)集成商必須用幾臺(tái)儀器來(lái)替換一臺(tái)儀器以取得等價(jià)功能，而傳統(tǒng)架構(gòu)的測(cè)試軟件也使這項(xiàng)工作變得更加困難。

　　最后，就一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的總體成本而言，系統(tǒng)校準(zhǔn)和自測(cè)試正變得越來(lái)越重要。機(jī)架堆疊式方法中所用的儀器主要是為單獨(dú)工作和校準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的。在許多情況下，當(dāng)這些儀器被集成到一個(gè)系統(tǒng)中時(shí)，校準(zhǔn)和功能測(cè)試便變得難于執(zhí)行，有時(shí)甚至無(wú)法執(zhí)行。今天，產(chǎn)品的性能水平已要求在集成系統(tǒng)一級(jí)運(yùn)行校準(zhǔn)程序。為了盡可能地滿足測(cè)試系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)4:1或10:1性能要求，這種方法是必需的。

　　作為一個(gè)行業(yè)，測(cè)試和測(cè)量供應(yīng)商面臨著提供能夠解決這些問(wèn)題的靈活、可伸縮和高效測(cè)試解決方案的挑戰(zhàn)。這個(gè)挑戰(zhàn)實(shí)際上也就是開(kāi)發(fā)出一種既能經(jīng)濟(jì)地滿足今天的要求，又能保護(hù)未來(lái)投資的方法。