半導體材料研究和器件測試通常要測量樣本的電阻率和霍爾電壓。半導體材料的電阻率主要取決于體摻雜，在器件中，電阻率會影響電容、串聯電阻和閾值電壓。霍爾電壓測量用來推導半導體類型（n還是p）、自由載流子密度和遷移率。
2020-01-15 11:18:39
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半導體材料從發現到發展，從使用到創新，擁有這一段長久的歷史。宰二十世紀初，就曾出現過點接觸礦石檢波器。1930年，氧化亞銅整流器制造成功并得到廣泛應用，是半導體材料開始受到重視。1947年鍺點接觸三極管制成，成為半導體的研究成果的重大突破。
2020-04-08 09:00:15
半導體材料的導電性對某些微量雜質極敏感。純度很高的半導體材料稱為本征半導體，常溫下其電阻率很高，是電的不良導體。在高純半導體材料中摻入適當雜質后，因為雜質原子提供導電載流子，使材料的電阻率大為
2013-01-28 14:58:38
好像***最近去英國還專程看了華為英國公司的石墨烯研究，搞得國內好多石墨烯材料的股票大漲，連石墨烯內褲都跟著炒作起來了~~小編也順應潮流聊聊半導體材料那些事吧。
2019-07-29 06:40:11
無嚴格要求的特點。因此，目前檢測半導體材料電阻率，尤其對于薄膜樣品來說，四探針是較常用的方法。 四探針技術要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同時，測試中間兩根探針的電壓差。最后，電阻率通過樣品的幾何參數，輸出電流源和測到的電壓值來計算得出。
2021-01-13 07:20:44
有這些材料中，電流的流動可以與材料的導電性直接相關，導電性是電阻率的倒數。電阻率是材料的一種特性，它與溫度有關。半導體電阻率的溫度依賴性對其在電子學中的應用起著重要的作用。在本文中，我們將探究其中的原因
2022-02-25 09:55:01
流測壓的過程,需要設備能輸出電流并且測試電壓2電阻率及電子移率通常范圍較,需要電流電壓范圍都很大的設備3電流源和電壓表精度要高,保證測試的準確性測試設備： Series 2600B SMU光電
2020-05-09 15:22:12
半導體材料半導體的功能分類集成電路的四大類
2021-02-24 07:52:52
和氣體敏感膜。金電極連接氣敏材料的兩端，使其等效為一個阻值隨外部待測氣體濃度變化的電阻。由于金屬氧化物有很高的熱穩定性，而且這種傳感器僅在半導體表面層產生可逆氧化還原反應，半導體內部化學結構不變
2012-08-29 15:40:48
在這里我們通過半導體與其他材料的主要區別來了解半導體的本性： 在室溫下，半導體的電導率處在103~10-9西[門子]/厘米之間，其中西[門子]/厘米為電導率的單位，電導率與電阻率互為倒數。一般金屬
2018-03-29 09:04:21
導電聚合物材料的電學特性是通過摻雜來控制其電阻率來改變的。因此精確測量導電聚合物的電阻率具有重要意義。半導體工業中普遍使用四探針測量儀測量無機半導體材料的電阻率。而導電聚合物屬于有機半導體材料，導電
2019-07-05 08:28:34
表明，金屬材料電阻的相對變化與其線應變成正比。這就是金屬材料的應變電阻效應。（2）半導體材料的應變電阻效應。對半導體材料施加應力時，除了產生形變外，材料的電阻率也要發生變化，這種現象稱為壓阻效應。很早
2008-06-04 11:02:18
到周圍土壤中的一種方法。如果您正在進行電阻測量，那么您正在測試特定的安裝地面。電阻率是土壤的獨立電性質。如果您正在進行電阻率測量，那么您正在測試土壤本身。電阻率為我們提供了一種量化材料差異和導電
2018-10-25 09:56:57
近似地測量表面電阻,測得的表面電阻值主要反映被測試樣表面污染的程度.所以,表面電阻率不是表面材料本身特性的參數,而是一個有關材料表面污染特性的參數.當表面電阻較高時,它常隨時間以不規則的方式變化.測量表面電阻
2020-09-14 15:29:02
電阻率與霍爾電壓的測量PV電池材料的電阻率可以采用四針探測的方式3，通過加載電流源并測量電壓進行測量，其中可以采用四點共線探測技術或者范德堡方法。 在使用四點共線探測技術進行測量時，其中兩個探針用于
2011-07-05 17:41:37
電阻率測量/控制型儀表，采用MCU微控制器完成信號采集處理、自動溫度補償，電阻率低限報警；衛生級316L不銹鋼電極，外型輕巧，價位適中，儀表長期運行穩定、準確、可靠。
2019-09-20 09:11:19
表面電阻/表面電阻率, 體積電阻/體積電阻率, 點對點電阻, 接地電阻的測量靜電耗散材料電阻和電阻率的測量表面電阻/表面電阻率, 體積電阻/體積電阻率, 點對點電阻, 接地電阻的測量l 表面電阻
2008-09-03 17:12:52
寬禁帶半導體材料氮化鎵（GaN）以其良好的物理化學和電學性能成為繼第一代元素半導體硅（Si）和第二代化合物半導體砷化鎵（GaAs）、磷化鎵（GaP）、磷化銦（InP）等之后迅速發展起來的第三代半導體
2019-06-25 07:41:00
進行高電阻測量測量高阻和絕緣材料電阻率高阻低電流測量體電阻率和表面電阻率惰性氣體或高度真空中的小晶體進行高電阻測量用6線電阻測量技術獲得更準確的電阻測量碳納米管半導體納米線碳納米管 FET納米傳感器
2021-11-16 15:59:56
0.000001 至 0.1% 的摻雜劑即可使半導體材料達到有用的電阻率范圍。半導體的這種特性允許在材料中創建具有非常精確電阻率值的區域。文章全部詳情，請加V獲取：hlknch/xzl1019如有侵權，請聯系作者刪除
2021-07-01 09:38:40
和復合同時存在并到達動態均衡，此時半導體具有一定的載流子密度，從而具有一定的電阻率。溫度升高時，將產生更多的電子-空穴對，載流子密度增加，電阻率減小。無晶格缺陷的純潔半導體的電阻率較大，實踐應用不多。
2020-03-26 15:40:25
源表不像源-測量單元那樣具有極高輸入電阻測量能力。數字源表由于其內置了源功能，所以可以用來生成一組電流－電壓（I-V）特性曲線，這對于半導體器件和材料的測試是非常有用的。當電源時可作為可編程電壓源或可
2022-04-08 16:33:47
合物的電阻率，硬度，化學性能，機械強度和電阻率。（2）接觸形式：點接觸，線接觸，面接觸。（3）接觸表面條件：當接觸表面形成氧化膜（除了銀）時，該氧化膜具有比金屬本身大得多的電阻。（4）接觸壓力。（5
2021-01-19 13:58:59
的輸入阻抗大約為1014Ω。而且，電流源的輸出電阻必須比未知電阻大得多，才能使測量為線性。樣品兩端的電壓決定于樣品的電阻，因此在使用恒流法時，難于考慮電壓系數的問題。如果關心電壓系數，最好使用恒壓法。靜電計電壓表和分離的電流源可以在采用四點探頭法或van der Pauw法測量半導體材料的高電阻率時使用。
2011-08-09 14:22:29
測量高阻低電流測量體電阻率和表面電阻率惰性氣體或高度真空中的小晶體進行高電阻測量用6線電阻測量技術獲得更準確的電阻測量碳納米管半導體納米線碳納米管 FET納米傳感器和陣列單電子晶體管分子電子有機
2021-11-11 10:35:10
測量高阻低電流測量體電阻率和表面電阻率惰性氣體或高度真空中的小晶體進行高電阻測量用6線電阻測量技術獲得更準確的電阻測量碳納米管半導體納米線碳納米管 FET納米傳感器和陣列單電子晶體管分子電子有機
2021-12-08 15:35:04
低電流測量 體電阻率和表面電阻率 對惰性氣體或高度真空中的小晶體進行高電阻測量 測量高阻和絕緣材料電阻率 高阻低電流測量 體電阻率和表面電阻率 惰性氣體或高度真空中的小晶體進行高電阻測量 用6線電阻
2020-08-12 15:08:14
研究方向的熱點。在半導體材料的研究中，電阻率、載流子密度和遷移率是測試的關鍵參數。二·測試難點1、寬禁帶材料的帶隙較大，擊穿電場較高。超禁帶材料擊穿電場更高。因此需要上千伏高壓源表進行測試。2、功率
2022-01-23 14:15:50
收購吉時利KEITHLEY6517B高阻表應用領域：薄膜材料高阻低電流測量體電阻率和表面電阻率對惰性氣體或高度真空中的小晶體進行高電阻測量測量高阻和絕緣材料電阻率高阻低電流測量體電阻率和表面電阻率
2018-11-09 11:28:25
過程(充電－測量－放電)，控制一系列的電阻測量。Agilent4338B低電阻測試儀主要技術指標：●測量參數：R(直流電阻)、I(直流電流)、ps(表面電阻率)，pv(體電阻率)。●測量范圍：電阻1*103
2021-03-05 10:40:06
功能，最大輸出電壓達300V，最小測試電流100pA，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中:半導體IC或元器件，功率器件，傳感器，有機材料與納米材料等特性測試和分析。S系列源表應用l
2019-12-26 16:27:42
華天電力專業生產接地電阻測試儀，專注電力行業十五年。接地電極的電阻與其放置和驅動的土壤的電阻率有關，因此土壤電阻率計算和測量是設計接地裝置時的一個關鍵方面。
2018-10-24 10:26:55
ES3010E接地電阻土壤電阻率測試儀（簡易型）可以使用2、3、4線法測量接地電阻、土壤電阻率、接地電壓測量等功能。接地電阻量程可達：0.00Ω～30.00KΩ，土壤電阻率量程可達：0.00ΩM
2015-12-12 11:27:52
基于付利葉變換形成的復電阻率程序，可針對野外和實驗室多頻激電測量，也可用于諧波可控源音頻大地電磁、頻域電磁、磁電阻率(MMR)以及其它利用磁場探頭的方法。這是一個改進增強型程序，除付利葉變換
2011-03-04 22:00:42
一系列的電阻測量。Agilent4338B低電阻測試儀主要技術指標： 測量參數：R(直流電阻)、I(直流電流)、ps(表面電阻率)，pv(體電阻率)。測量范圍：電阻1*103Ω至 1.6x1016
2021-11-03 14:48:44
測量范德堡法電阻率
2020-12-08 06:23:42
本文詳細介紹了如何使用這些測試夾具來進行表面電阻率和體電阻率的測量，以及測量電阻率時使用的變換極性和變換電壓的技術。
2021-04-14 06:16:27
請問導電材料電阻率有哪幾種經典的測量方式？
2021-04-12 07:01:37
加入，而電壓降則在兩個內部的探針之間測量。表面電阻率的計算公式為：其中：σ=以歐姆/□ 為單位的表面電阻率，V=電壓表測得的電壓，I=電流源電流。注意，表面電阻率的單位表達為歐姆，以區別于測量出的電阻
2017-08-10 09:12:54
值。 R=1/G， 其中G為物體電導，導體的電游艇阻越小，電導就越大，數值上等于電阻的倒數。單位是西門子，簡稱西，符號s。 常見導體的電阻率 材料 20℃時的電阻率 （&micro
2010-03-16 15:54:40
在工程中，測量大地電阻率常用的方法是四極法測量電阻率，也稱溫納法。這種方法的設計實現較為復雜，抗干擾也不強。還有一種方法就是采用電橋法測量，聽說業內有人搞成功過，不知道這種設計是怎么實現的，特想大家請教一下，探討一下。
2018-03-16 10:03:17
在許多的預防性試驗中都需要測量材料的電阻參數，然而常常有電阻及電阻率測量不準的情況出現，今天中試控股幫您分析什么影響了電阻（率）測量的準確性。一、測試電壓介質材料的電阻(率)值一般不能在很寬的電壓
2021-08-12 15:28:26
電阻率的計算公式
2021-03-17 07:51:25
三極法測量土壤電阻率四極法測量土壤電阻率及注意事項
2021-02-24 08:49:59
, CdTe 等；3、低阻抗材料：金屬、透明氧化物、弱磁性半導體材料、TMR 材料等。 四、系統原理：霍爾效應測試系統主要是對霍爾器件的 I-V 測量，再根據其他相關參數來計算出對應的值。電阻率：范德
2020-06-08 17:04:49
密度和遷移率。為確定半導體范德堡法電阻率和霍爾電壓，進行電氣測量時需要一個電流源和一個電壓表。為自動進行測量，一般會使用一個可編程開關，把電流源和電壓表切換到樣本的所有側。4200A-SCS參數
2020-02-11 11:01:19
，有如下反應：42 （2） 上式表明，被氧俘獲的電子釋放出來，這樣半導體表面載流子濃度上升，從而半導體表面電阻率減小。三、氧化物半導體甲烷傳感器的研究進展 盡管甲烷是分子結構最簡單的一種碳氫
2018-10-24 14:21:10
）沉積厚度約為數個趨膚深度的良導體層（比如鍍金、鍍銀）。這一原理也同樣應用在改善微波無源器件的無源互調性能方面：低互調器件通常采用鍍銀表面。
2019-06-24 06:58:24
電導率與電阻率有何關系？怎樣去計算電導率？
2021-10-11 06:46:08
`東莞市雅杰電子材料有限公司生產的電磁屏蔽密封襯墊，抗電磁干擾屏蔽密封條在使用頻率20MHZ-10GHZ時，屏蔽效能﹥80dB (MIL-G-83528)、表面電阻率低，﹤0.05歐姆/平方，使得
2018-09-04 11:48:55
，是眾多高校實驗室的大多選擇。南京大學薄膜晶體管和半導體材料測試采用的是2612B和2636B雙源表的結合，多路的SMU測試和fA量級的電流分辨率，通過2612B源表來，來回讀低至fA量級的電流分辨率
2020-02-07 15:40:19
半導體材料是一類具有半導體性能（導電能力介于導體與絕緣體之間，電阻率約在1mΩ·cm～1GΩ·cm范圍內）、可用來制作半導體器件和集成電路的電子材料。按種類可以分為元素半導體和化合物半導體兩大類
2019-06-27 06:18:41
介紹了一種12 GHz附近的高溫超導薄膜微波表面電阻Rs測試系統。該系統采用低損耗高介電常數的藍寶石，構成工作在TE011+δ諧振模式的介質諧振器，在77 K時，利用測量介質諧振器的Q
2009-05-26 20:49:40
6 熔鋁電阻率的測量基于電渦流原理,設計了傳感器的結構和標定方法。為了簡化測量熔鋁電阻率的硬件電路,在信號處理電容中采用了LVDT 專用芯片AD598 硬軟件結合消除了溫度影響,在熔
2009-06-27 09:10:4119 熔鋁電阻率的測量基于電渦流原理,設計了傳感器的結構和標定方法。為了簡化測量熔鋁電阻率的硬件電路,在信號處理電容中采用了LVDT 專用芯片AD598 硬軟件結合消除了溫度影響,在熔
2009-06-29 10:02:5610 簡介RST-800表面電阻測量儀是一款可靠且易于使用的電阻測試儀，根據行業標準（如ANSI/ESD 測試方法S4.1、S7.1和 STM11.11）測試靜電消散表面的電阻率和電阻，無論是
2023-01-13 11:55:52
（直流電流）、ps（表面電阻率），pv（體電阻率）。· 測量范圍：電阻1*103Ω 至 1x1015Ω；電流1pA至100uA。· 測量速度：
2023-03-01 14:48:32
一、概述HM5007A全自動絕緣油介質損耗及電阻率測試儀依據GB/T5654-2007《液體絕緣材料相對電容率、介質損耗因數和直流電阻率的測量》設計制造。用于絕緣油等液體絕緣介質的介質
2023-07-26 09:26:02
摘要：為了適應半導體生產工藝發展的要求，我們開發了一種利用改進的Rymaszewski法進行四探針硅片電阻率測量的單片機電路。它主要包括恒流源和電壓測量電路兩部分。它不僅可以
2010-04-30 09:05:1334 QJ36B-2A型數字直流電橋也稱為導體電阻材料電阻率智能測試儀,該儀器是高精密、智能化綜合電阻測量實驗組合裝置，它主是為產品質量
2024-03-03 15:34:09
靜電耗散材料電阻和電阻率的測量
表面電阻/表面電阻率, 體積電阻/體積電阻率, 點對點電阻, 接地電阻的測量
l 表面電阻, 體積電阻, 點對點電阻, 接地電
2010-08-29 16:18:5824 靜電耗散材料電阻和電阻率的測量表面電阻/表面電阻率, 體積電阻/體積電阻率, 點對點電阻, 接地電阻的測量l 表面電阻, 體積電阻, 點對點
2008-09-03 17:13:262985 
半導體材料的工藝流程
導體材料特性參數的大小與存在于材料中的雜質原子和晶體缺陷有很大關系。例如電阻率因雜質原子的類型和
2010-03-04 10:45:252352 半導體材料的特性
半導體材料是室溫下導電性介于導電材料和絕緣材料之間的一類功能材料。靠電子和空穴兩種載流子實現導電，室溫時電阻率一般在10-5～107歐·米之
2010-03-04 10:50:381151 幾種金屬導體在20℃時的電阻率對照表。
2011-04-22 17:16:5815060 什么是表面電阻率呢，表面電阻率是平行于通過材料表面上電流方向的電位梯度與表面單位寬度上的電流之比，用歐姆表示。
2011-04-24 09:09:283955 半導體材料 是一類具有半導體性能、可用來制作半導體器件和集成電的電子材料，其電阻率在10（U-3）~10（U-9）歐姆/厘米范圍內。半導體材料的電學性質對光、熱、電、磁等外界因素的
2011-11-01 17:35:1691 導電聚合物材料的電學特性是通過摻雜來控制其電阻率來改變的。因此精確測量導電聚合物的電阻率具有重要意義。半導體工業中普遍使用四探針測量儀測量無機半導體材料的電阻率。而導電聚合物屬于有機半導體材料，導電機理不同，且電阻率區間跨度較大(為10-3～1010Ω·cm)。
2017-11-25 09:51:051634 
半絕緣半導體包含了第二代和第三代半導體，它們在微波、光電子、新能源及微電子領域有著廣泛的應用，電阻率一般在10jn．cnl_1012n．crri之間。要研究此類新材料的電阻率分布狀況已無法用現有
2018-02-10 11:06:170 半導體材料是一類具有半導體性能（導電能力介于導體與絕緣體之間，電阻率約在1mΩ·cm～1GΩ·cm范圍內）、可用來制作半導體器件和集成電路的電子材料。以下對半導體材料發展前景分析。
2019-03-29 15:26:4213592 半導體材料（semiconductor material）是一類具有半導體性能（導電能力介于導體與絕緣體之間，電阻率約在1mΩ·cm～1GΩ·cm范圍內）、可用來制作半導體器件和集成電路的電子材料。
2020-08-03 16:47:302789 電阻率是決定半導體材料電學特性的重要參數，為了表征工藝質量以及材料的摻雜情況，需要測試材料的電阻率。 四探針法是目前測試半導體材料電阻率的常用方法，因為此法設備簡單、操作方便、測量精度高且對樣品形狀
2020-10-19 09:53:333651 
、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導率，完全符合國家標準GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數和表面電阻試驗方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法等標準要求。 電導率和電阻率之間和關系？
2021-01-14 10:44:532281 
8009電阻率測試盒是用于測量體電阻率和表面電阻率（方塊電阻）、且帶保護的測試夾具。它具有優良的靜電屏蔽性能和耐受1100V高壓的絕緣電阻。8009電阻率測試夾具用于6517A靜電計、6487皮安表和6517B靜電計/高阻表：只要打開8009的蓋子，就會自動關閉配套儀器的輸出電壓。
2021-02-17 09:03:002488 德國高美測儀ESD靜電防護表面電阻測試儀METRISO?3000或者METRISO B530，可選配符合IEC61340-2-3標準迷你測試表筆；用于小型包裝帶和卷軸的點對點表面電阻測量。(適用于測試具有不規則形狀表面的物品)。兩針頭的表筆可用于硬質材料測量；多針頭的表筆可用于軟質材料測量。
2022-01-17 14:14:43601 
小型包裝帶和卷軸的ESD靜電防護表面電阻測量方法 小型包裝帶和卷軸的ESD靜電防護表面電阻測量方法:ESD靜電防護表面電阻測試儀METRISO?3000 根據IEC 61340-2-3-2016
2022-01-26 17:36:17539 
橡膠、塑料、電木等，作為絕緣材料，在我們的電子和電力產品設計時必不可少。但不知您想過沒有，您選擇的材料的電阻性能到底怎么樣，在各種工作場景或溫度情況下，其電阻或電阻率有多大，是否能滿足產品的設計要求
2022-02-18 17:13:042305 
四探針法通常用來測量半導體的電阻率。四探針法測量電阻率有個非常大的優點，它不需要較準；有時用其它方法測量電阻率時還用四探針法較準。 與四探針法相比，傳統的二探針法更方便些，因為它只需要操作兩個探針
2022-05-27 15:01:055441 
KickStart高電阻率應用控制著執行所需測量的靜電計和測試夾具，進行ASTM-D-257標準電阻率測量。它可以以高達1000V電壓測試材料，確定高達1018 Ω-cm的電阻率，分析電流隨時間變化
2022-08-09 16:42:32935 
ITECH艾德克斯于今日正式推出旗下圖形化系列的高精密源測量單元---IT2800系列，簡稱源表或SMU。
2022-08-17 14:24:41528 半導體材料wafer、光伏硅片的電阻率非接觸式測量、霍爾遷移率測試儀
2023-06-15 14:12:101041 
硅鋼片表面電阻測試儀TS1700是一套專用于測量電工鋼片涂層絕緣電阻性能的設備，主要由測試裝置(10根觸頭及金屬桿 / 導電橡膠觸頭、鉆頭、電動缸、樣品托盤等)、測控臺、系統驗證標準器，計算機及測試
2023-02-13 14:56:39844 
重錘式表面電阻測試儀是一種用于測量材料表面電阻的儀器。它采用了重錘敲擊和測量電流的方式進行測試。 工作原理： 重錘式表面電阻測試儀通過將一個金屬錘頭敲擊在待測物體表面，產生一個封閉電路。測量儀器通過
2023-08-07 09:45:15605 
什么是半導體材料的壓阻效應？ 半導體材料是現代電子技術的關鍵材料之一。它們具有獨特的電學性能，包括可調的電阻率和壓阻效應。壓阻效應是指半導體材料在受到外力或應力作用時導電性能的變化。在本文中，我們
2023-09-19 15:56:551585 ，也就是說，這些元素增加了本征半導體材料電導率。該摻雜材料表現出的兩個獨特之處是固態電子學的基礎。這兩個屬性是:1。通過摻雜的多少、摻雜元素的種類等方面，可以精確控制材料的電阻率；2. 電子和空穴導電的能力。
2023-11-13 09:36:22973 
，對其均勻性的控制和準確的測量直接關系將來能否制造出性能更優功率器件。 不同于使用萬用表測量常規導體電阻，半導體硅單晶電阻率以及微電子領域的其他金屬薄膜電阻率的測量屬于微區薄層電阻測試，需要利用微小信號供電以及
2024-01-08 17:30:41155 
半導體材料是指在溫度較低且電流較小的條件下，電阻率介于導體和絕緣體之間的材料。半導體材料在電子器件中具有廣泛的應用，如集成電路、太陽能電池、發光二極管等。其中，硅和二氧化硅是半導體材料中最常見的兩種
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