您的位置:電子發(fā)燒友網(wǎng) > 電子技術(shù)應(yīng)用 > 模擬技術(shù) >
近場探頭的EMI預(yù)兼容測試 - 基于安捷倫CXA信號分析儀的EMI預(yù)兼容測試方案
2012年07月10日 14:55 來源:eet-china 作者:秩名 我要評論(0)
使用近場探頭進(jìn)行EMI 預(yù)兼容測試和故障
診斷
在缺乏電波暗室的情況下,很難完全排除一些如寬帶信號或跳頻信號的環(huán)境干擾。一個性價比更高的方案是使用信號分析儀和近場探頭來替代寬帶天線進(jìn)行輻射泄漏預(yù)兼容測試,故障診斷,以及改進(jìn)效果驗證。
正規(guī)的輻射泄露測試,無論是三米法還是十米法,都是進(jìn)行遠(yuǎn)場測量。而使用近場探頭測量的是近場電磁波。兩者的測試結(jié)果無法進(jìn)行數(shù)學(xué)推導(dǎo)換算。這樣我們就不能直接把近場測試結(jié)果和遠(yuǎn)場測試結(jié)果進(jìn)行直接轉(zhuǎn)換。但是一個基本原則是,近場的輻射越大,遠(yuǎn)場的輻射也必然越大。這就為近場探頭測試提供了理論依據(jù)。而使用近場探頭測試,我們需要把新被測件測試結(jié)果和一個已知合格被測件的近場探頭測試結(jié)果進(jìn)行比較。針對這一步測試,推薦使用電場探頭或者尺寸較大的磁場探頭。這兩類探頭靈敏度一般更高,而對距離不太敏感。
圖五 使用近場探頭進(jìn)行EMI故障診斷
如果一個新產(chǎn)品在EMI 預(yù)兼容測試或者標(biāo)準(zhǔn)兼容測試中失敗,進(jìn)行故障診斷和改進(jìn)是當(dāng)務(wù)之急。沒有合適的工具,工程師很難找到癥結(jié)并且對癥下藥。N9000A具有非常優(yōu)秀的測試靈敏度可以和近場探頭完美配合。在故障定位的過程中,尺寸較小的磁場探頭可以更好的完成工作。小尺寸的磁場探頭靈敏度更低,但是空間分辨率更高。通過把探頭在被測件或者電路上緩慢移動,通過觀測N9000A上頻譜幅度的變化,工程師可以準(zhǔn)確的把可疑輻射源的區(qū)域定位到很小的一塊電路。
通過近場探頭我們可以較容易的找到輻射源存在的可疑區(qū)域。如果需要進(jìn)一步查找是哪一段電路,管腳甚至芯片是罪魁禍?zhǔn)祝覀兛墒褂檬静ㄆ魈筋^或者高頻探頭需要做接觸式測量。安捷倫85024A 和U1818A高頻探頭可以分別測試到最高3 GHz和6GHz的信號,非常適合進(jìn)行電路接觸式測量,尤其是針對具有高頻時鐘信號的電路。但是使用高頻探頭測試的時候,需要注意保護(hù)探頭和頻譜儀不被高壓損壞。
結(jié)論
安捷倫N9000A CXA 信號分析儀和W6141A EMC測量應(yīng)用軟件為所有電子工程師提供了一個高效而經(jīng)濟的專業(yè)EMI 預(yù)兼容測試方案。這同時是一個功能專業(yè)、強大而靈活的故障診斷工具,可適 用于從研發(fā)至正式生產(chǎn)的整個產(chǎn)品生命周期。
本文導(dǎo)航
- 第 1 頁:基于安捷倫CXA信號分析儀的EMI預(yù)兼容測試方案
- 第 2 頁:EMI預(yù)兼容方案主要優(yōu)勢
- 第 3 頁:近場探頭的EMI預(yù)兼容測試